Microscope CIQTEK à Balayage Tunsgtène (MEB W)
Trois modèles innovants et aux performances remarquables.
Abordables mais sans concessions à la performance et comparables aux meilleurs microscopes électroniques.
SEM2100, SEM3200 et SEM3300.
Filament tunsgtène
Résolutions:
– 2.5nm à 15kV
– 4 nm à 3kV
– 5 nm à 1kV
Détecteurs ETD, LVD et InLens (3300).
Vide poussé et vide partiel jusqu’à 1000 Pascal (Mode ESEM)
Testez et approuvez…
Brochure : SEM3200