Microscope CIQTEK à Balayage Tunsgtène (MEB W)

Microscope CIQTEK à Balayage Tunsgtène (MEB W)

Trois modèles innovants et aux performances remarquables.
Abordables mais sans concessions à la performance et comparables aux meilleurs microscopes électroniques.

SEM2100, SEM3200 et SEM3300.
Filament tunsgtène

Résolutions:
– 2.5nm à 15kV
– 4 nm à 3kV
– 5 nm à 1kV

Détecteurs ETD, LVD et InLens (3300).
Vide poussé et vide partiel jusqu’à 1000 Pascal (Mode ESEM)

Testez et approuvez…

Brochure : SEM3200

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