Microscope double colonne Electronique et Ionique (MEB FEG-FIB)

Microscope double colonne Electronique et Ionique (MEB FEG-FIB)

Le FIB CIQTEK est l’outil idéal pour s’ouvrir sur la fusion de la microsocopie électronique et de la préparation d’échantillon par double faisceau ionique et electronique.

Préparez facilement vos lames minces pour l’observation au MET, Préparez vos échantillons pour les essais in-SITU et l’analyse en 3D par reconstruction, réalisez des acquisitions EDS 3D et EBSD 3D pour un budget raisonnable en complément des systèmes de microanalyse BRUKER.

Brochure : DB550

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